MLCC等无源元件10k级规模化老炼
相对于单层陶瓷电容技术，多层片式陶瓷电容MLCC在增加元件个数及自身体积的情况下实现了高容量的需求，此外还具备等效串联电阻小、阻抗低、额定波纹电流大、高频特性好、无极性等优点。本试验能力可实现MLCC的10k级以上规模的老炼，实时监控元件长时间高温寿命试验漏电监控，推算失效率等相关曲线。
评价
服务内容
试验样品 MLCC
试验数量 10k以上
试验时间 1000小时以上
监控能力 单板监控（漏电流测试范围：1.0μA～30.0mA，测试精度±2%RD±2LSB；）
服务范围
MLCC等电容器
测试周期
根据测试大纲或相关技术标准定制试验
服务背景
随着5G、新能源汽车、国防J工的快速发展，MLCC元件的单台使用量飞速上升，为国产化替代提供了广泛的空间，当前MLCC主要朝着微型化、高容量化、高频化、高温化、高电压化、高可靠性方向发展，对国产MLCC工作寿命、特定工况下的失效模式、失效率（FIT）的考核及计算非常重要。
我们的优势
① 产能情况
单台设备单次最多可执行0402/0603封装MLCC产品10万余颗，0805封装MLCCC产品7.4万余颗，1206封装MLCCC产品5.5万余颗，1210封装MLCCC产品3.6万余颗
②流程化管控
来样→清点数量→SMT→试验→实时监控→失效分析
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