硅光芯片测试

硅光芯片测试是确保硅光芯片性能和质量的关键环节,广电计量打造专业人才队伍、构建完善的硅光芯片测试体系,全方位助力硅光芯片光通信产业高速发展。

评价

服务范围

功能单元:硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波导、激光器等

材料体系:Si、SiN、LiNbO3

检测标准

GR-468,参考客户委托

检测项目

参数测试项目:耦合损耗、调制效率、传输损耗、带宽、电阻、暗电流、响应度、眼图、模斑等,支持批量筛选,定制标准化测试方案

老炼以及可靠性验证:硅光芯片HTOL、HTRB、THB等试验,支持MPD、Heater、MZI、光波导、激光器。

服务背景

随着 5G、云计算、大数据等领域快速发展,对高速、低功耗、高集成度的光通信芯片需求激增,硅光芯片凭借与 CMOS 工艺兼容、成本低、体积小等优势成为行业焦点。但制造工艺复杂,易出现光学性能偏差、电学参数异常等问题,为保障其性能、质量,满足通信、数据中心等关键领域应用需求,对硅光芯片测试和筛选至关重要。

我们的优势

⼯业和信息化部“⾯向集成电路、芯⽚产业的公共服务平台”。

⼴东省⼯业和信息化厅“汽车芯⽚检测公共服务平台”。

江苏省发展和改⾰委员会“第三代半导体器件性能测试与材料分析⼯程研究中⼼”

国内第一家完成激光发射器、探测器全套AEC-Q102车规认证的第三方检测机构。

有丰富的硅光芯片测试经验和可靠性试验案例

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