产品范围
北斗导航芯片、高速存储器、通用SOC系列、高速高精度ADC/DAC、大功率模拟IC、控制器、可编程逻辑器件、总线接⼝系列、射频器件、放大器、驱动芯片、监控芯片、电源类芯片等
检测标准
● GJB 597B-2012半导体集成电路通用规范
● GJB 2438A-2002混合集成电路通用规范
● GJB 548C-2021 微电子器件试验方法和程序
● GJB 7400-2011合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范
● 行业规范：MIL、IEEE、JEDEC等
● 客制标准：产品⼿册、详细规范、测试方案
检测项目
| FT（成品）工程化 | 测试方案开发与测试平台选型； 测试程序开发：基于V93000、Ultraflex、J750HD、3380P、STS系列、magnum等设备 测试硬件设计：Loadboard、changkit、socket、PCB ⼯程化验证与特性参数分析 |
| FT（成品）量产 | 小批量量产 量产维护与良率提升 |
相关资质
CNAS
服务背景
集成电路测试卡位产业链关键节点，贯穿设计、制造、封装测试以及应用的全过程。测试在保证芯片质量，产品交付、项目验收及推向应⽤具有重要作⽤。而芯片设计多样化和定制化，对测试人才和技术经验要求明显提升，如何实现快速⼯程化和量产将⾯临极⼤挑战。
我们的优势
广电计量拥有一支经验丰富的IC测试技术开发团队，配备93K、J750HD、3380P、STS8205等主流ATE设备以及三温机械手，可提供各类芯片的测试方案开发、测试硬件开发、测试程序开发与调试，小批量测试、应⽤验证。从⼯程化到量产的全流程专业定制化的⼀站式服务。
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