产品范围

老化方案与硬件开发、ATE测试、可靠性试验

检测标准

● GJB 597B-2012半导体集成电路通用规范

● GJB 2438B-2017混合集成电路通用规范

● GJB 548C-2021 微电子器件试验方法和程序

● GJB 7400-2011合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范

● 行业规范：MIL、IEEE、JEDEC等

● 客制标准：产品⼿册、详细规范、测试方案

相关资质

CNAS

服务背景

元器件的可靠性直接关系到电子产品的质量和使用寿命。通过对元器件进行可靠性检测，可以提前发现潜在的缺陷和问题，避免在产品使用过程中出现故障，导致经济损失和安全事故。

我们的优势

广电计量拥有丰富的老炼板开发经验，能实现板级方案开发与可靠性试验的一站式解决。