服务内容

（1）在⾃然贮存试验或贮存加速寿命试验的情况下，开展装备定寿延寿⼯作、收集 各种信息（含贮存故障数据、失效模式和机理）识别贮存装备薄弱环节，掌握产 品⽼化趋势，制定装备零部件延寿⽅案，充分挖掘装备寿命潜⼒；

（2）采⽤特定专业的检测设备，采⽤加速试验、⽼品分析、历史数据收集等⽅式⽅ 法，辅以产品失效分析，即时发现贮存失效机理，并基于科学的概率数理统计理 论，计算出产品的可靠性特征参数和寿命特征值分布曲线，确定装备贮存寿命。

服务范围

弹载产品零部件

长期贮存装备

库存电子元器件

检测标准

GJB150A-2009准备实验室环境试验⽅法

QJ2227A-2005航天⽤电⼦元器件有效贮存期和超期 复验要求

GB/T5080.6-1996设备可靠性试验恒定失效率假设 的有效性检验

GB/T5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下 的失效率与平均⽆故障时间的验证试验⽅案

GB/T34986-2017产品加速试验⽅法(等同IEC62506)

GJB899A-2009可靠性鉴定和验收试验

检测项目

电子板卡存储及使用寿命评价、剩余寿命分析、延寿分析

电子元器件存储及使用寿命评价、剩余寿命分析、延寿分析

相关资质

CNAS

测试周期

定寿延寿视实际试验方案1~3个月

服务背景

装备“⻓期贮存、⼀次使⽤”的特性，要求各⽅⾯都具有良好的贮存可靠性，⽽装备电⼦元器品种众多、⽤量巨⼤，其贮存 可靠性要求必须能满⾜负责的应⽤要求。装备到寿后，其技术状态不稳定，“装备修后测试合格就继续使⽤”的⽅法越显 ⽚⾯，如何在有限的准备采购经费内对装备进⾏定寿延寿成为急需解决的问题。