芯片板级可靠性测试(BLR)

板级可靠性测试(Board Level Reliability, BLR)是评估印刷电路板(PCB)及其组件在机械、热和环境应力下可靠性的重要测试方法。BLR测试是确保电子产品在预期使用寿命内可靠运行的关键步骤,有助于在产品量产前发现并解决潜在问题。

评价

测试对象

组装上板的元器件(以BGA、CSP、SOP等为主

测试项目及标准

类别 测试项目 参考标准 失效机制
温度环境试验 温度循环

JESD22-A104

EIAJED-4701-100

IPC 9701

热疲劳断裂

蠕变疲劳断裂

冷热冲击

JESD22-A106

EIAJED-4701B-141

机械环境试验 机械冲击试验

JESD22-B110

JESD22-B111A

静态断裂

振动断裂

蠕变断裂

机械振动试验 JESD22-B103B
弯曲试验

IPC 9702

JESD22-B113A

监控链路等级

Level 3:通过基板表面布线将焊点与PCB进行连接,主要观察零件表面线路、PCB以及焊点的异常 Level 2:原本在底部的线路延伸至基板内层,确认是否因外在应力导致基板内层线路断裂或分层。
Level 1:将布线继续延伸至零件内部,链接内部芯片的表面金属层,观察零件内部的焊点 Level 0:将布线继续延伸至芯片内部,由于与晶圆的设计制程有关

实验后检查项目

1.金相切片:对特定位置焊球、引脚等进行检查

2.红墨水拉拔:对整面BGA焊球阵列进行检查,确定断裂位置及失效模式

3.电气连通性:判定特定器件是否存在开路、短路等异常

相关资质

终端客户认可

服务背景

芯片板级可靠性测试(BLR)是验证芯片在真实工况下长期稳定性的关键环节。通过模拟温度循环、机械振动等极端环境应力,提前暴露焊点断裂、材料老化等潜在失效,避免量产后的重大损失。该测试既是满足汽车(AEC-Q)、工业等严苛标准的必要认证,也是提升产品市场竞争力的质量保障,能显著降低产品现场失效率达80%以上。

我们的优势

测试能力:覆盖全标准(JEDEC、IPC、AEC-Q)、全场景(温度/机械/跌落)

设备与资质:国际先进设备+CNAS/CMA认证实验室

行业经验:服务头部客户,积累丰富失效案例库

分析深度:从测试到FA提供全链条解决方案

服务网络:全国多实验室布局,快速响应

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