服务范围

半导体集成电路：可编程逻辑器件、微处理器、 控制器、单片机、数模转换器（A/D、D/A、SRD）、总线接口类（RS-232、RS-422/485、LVDS、CAN、PCI等）、存储器系列（EPROM、SRAM、DRAM、MRAM、DDR、FLASH、NOR FLASH、NAND FLASH、FIFO等）、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、定时器、时钟发生器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、运算放大器、电压调整器、电压⽐较器、模拟开关、多路复用器等；

混合集成电路：电源模块（AC/DC、DC/DC）、专用模块

射频微波器件：滤波器、衰减器、功分器、隔离器、耦合器、放大器、混频器、射频开关

半导体分立器件：二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、光耦、可控硅、IGBT等；

元件：电阻器、电容器、电感器、磁珠、变压器；

机电类：继电器、接触器、开关及面板元件、连接器、电线电缆

晶体谐振器、晶体振荡器

检测标准

●GJB7243-2011军用电子元器件筛选技术要求

●GJB128B-2021半导体分立器件试验方法

●GJB360B-2009电子及电气元件试验方法

●GJB548C-2021微电子器件试验方法和程序

●QJ10003—2008进口元器件筛选指南

●MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法

●MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序

检测项目

●外观检查；

●电性能测试：常温测试、高温测试、低温测试；

●温度应力试验：低温贮存、高温贮存、温度循环、温度冲击；

●机械应力试验：恒定加速度、跌落、随机振动、扫频振动等；

●老炼：高温反偏老炼、功率老炼、恒流老炼、间歇寿命老炼、高/低温运行等；

●密封（粗检漏、细检漏 ）、粒子碰撞噪声检测（PIND）；

●扫描声学显微镜检查；

●X射线照相检查。

相关资质

CNAS、CMA

测试周期

常规7-10个工作日

服务背景

电子元器件是装备的关键原材料，元器件筛选是提升电子装备可靠性的关键手段，严格执行型号的三级筛选管理规定，从源头上保证装备的可靠性和质量一致性是电子装备批产的关键。

我们的优势

实验室拥有国内外先进的测试设备2000余台(套)，可满足常用各类元器件测试需求，具备通用元件、半导体分立器件、集成电路、光电子器件、机电组件、微波器件等常见元器件的全套筛选试验能力，核心技术能力包括筛选方案制定、老炼程序开发、老炼板制作、ATE测试程序开发等。客户范围覆盖航天、航空、电科、兵器、船舶等1000余家单位，服务能力和质量得到客户广泛认可。